測(cè)試波形分析與定標(biāo)

沖閃測(cè)試時(shí)故障點(diǎn)二次擊穿放電波形

對(duì)于個(gè)別阻值較高的高阻故障，不是一下子故障點(diǎn)擊穿閃絡(luò)放電，而是沖擊電壓越過故障點(diǎn)，先傳到終端，再?gòu)慕K端返回過程中、電壓疊加，然后故障點(diǎn)才閃絡(luò)放電，此后在測(cè)試端和故障點(diǎn)之間來回反射，顯示故障點(diǎn)二次擊穿放電波形。沖閃法電流取樣測(cè)試時(shí)，故障點(diǎn)二次擊穿放電波形如圖6.6所示：

　圖6.6　故障點(diǎn)二次擊穿測(cè)試波形

波形特點(diǎn)：二次擊穿波形特點(diǎn)為發(fā)射脈沖為正脈沖波形，一次反射為負(fù)脈沖波形，并且二次波形間距離為電纜全長(zhǎng)（同故障點(diǎn)不放電波形）。從第三個(gè)波形開始，測(cè)試波形與沖閃測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)波形一致，其間距代表故障距離。

定光標(biāo)方法：二次擊穿波形同時(shí)具有故障點(diǎn)不放電波形及正常放電波形特點(diǎn)。定光標(biāo)時(shí)，先定前面二波形，看是否與電纜全長(zhǎng)一致，然后再觀察后面幾個(gè)反射波形，看是否具有前面講的沖閃波形特點(diǎn)（正脈沖前沿有負(fù)反沖，且各反射波形間距一致）。若具有二次擊穿波形特點(diǎn)，則按后面具有故障點(diǎn)閃絡(luò)擊穿特點(diǎn)的二波形分別定光標(biāo)起點(diǎn)、終點(diǎn)，就可確定故障點(diǎn)距離。

實(shí)際測(cè)試時(shí)須注意，由于故障性質(zhì)及測(cè)試條件不同，二次擊穿波形也變化較大，有時(shí)第二個(gè)波形（終端不放電反射波形）與第三個(gè)波形間距較大（延時(shí)擊穿時(shí)間較長(zhǎng)），有時(shí)間距小，甚至合二為一（延時(shí)較?。?。定光標(biāo)時(shí)，不管前面幾個(gè)波形多么復(fù)雜，只要后面有正常放電波形，就按后面波形定光標(biāo)起點(diǎn)、終點(diǎn)，確定故障距離。

對(duì)于故障點(diǎn)二次擊穿波形，測(cè)試時(shí)可以加大球間隙，增加電容容量，提高沖擊電壓，一般就可以測(cè)出正常閃絡(luò)放電波形。

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