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測(cè)試波形分析與定標(biāo)沖閃測(cè)試時(shí)近端故障測(cè)試波形若故障點(diǎn)距測(cè)試端很近（15－20米以下），沖閃測(cè)試時(shí)，測(cè)···
測(cè)試波形分析與定標(biāo)沖閃測(cè)試時(shí)故障點(diǎn)二次擊穿放電波形對(duì)于個(gè)別阻值較高的高阻故障，不是一下子故障點(diǎn)擊穿閃···
測(cè)試波形分析與定標(biāo)沖閃法測(cè)試純短路故障波形對(duì)于純短路故障（如直接將相地短接），可用沖閃法測(cè)試（如用沖···
測(cè)試波形分析與定標(biāo)--閃絡(luò)法閃絡(luò)法測(cè)試時(shí)故障點(diǎn)不放電波形對(duì)于有些高阻故障，加高壓沖擊時(shí)，雖然球間隙放···
測(cè)試波形分析與定標(biāo)(三）閃絡(luò)法電流取樣測(cè)試波形高壓閃絡(luò)法測(cè)試電纜故障時(shí)，其波形變化較大，但大部分測(cè)試···
測(cè)試波形分析與定標(biāo)(二）低壓脈沖法測(cè)低阻短路故障波形脈沖法測(cè)低阻短路故障，或者將好相非測(cè)試端與鎧裝短···
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